REPUBLICA MOLDOVA
Agenţia de Stat pentru
Proprietatea Intelectuală
REGISTRUL NAŢIONAL
Brevet de Invenţie de Scurtă Durată
 
(11) 1753 
(13) Z

(21) s 2022 0099
(22) 10.11.2022

(41) 
(45)  30.04.2024
(47)  30.11.2024
Brevet valabil 
Valabil până la:  10.11.2027
(51) 
Int. Cl: G01N 3/00 (2006.01)
G01N 27/02 (2006.01)
G01N 33/20 (2006.01)
G01R 27/02 (2006.01)
H01B 1/02 (2006.01)
H10N 50/10 (2023.01)
Titular(i):   INSTITUŢIA PUBLICĂ UNIVERSITATEA TEHNICĂ A MOLDOVEI, MD;
Inventator(i):  CONDREA Elena, MD; SIDORENKO Anatolie, MD; BELOŢERCOVSCHII Igori, MD;
Reprezentant:   BALAN Mihail, MD-3552, Trebujeni, Orhei, Republica Moldova
Solicitant(i):   INSTITUŢIA PUBLICĂ UNIVERSITATEA TEHNICĂ A MOLDOVEI, MD;
(54) Titlul:   Metodă de măsurare a rezistenţei microfirelor deformate în câmp magnetic transversal
Cerere PCT
(85)  (86)  (87) 
Priorităţi:

(23)  
Divizări, Transformări
(62) Nr.     Data:  
(67)Nr.     Data:  
(67)* Data 
Taxele de menţinere în vigoare:
 
AnulData achităriiSuma achitatăPerioada valabilităţii
12024.03.120 €2022.11.10 - 2023.11.10
22024.03.120 €2023.11.10 - 2024.11.10
32024.03.120 €2024.11.10 - 2025.11.10
42024.03.120 €2025.11.10 - 2026.11.10
52024.03.120 €2026.11.10 - 2027.11.10
Valabil pînă la 2027.11.10
Opoziţii, contestaţii:
Modificări, licenţe, cesiuni, moşteniri legale:

ModificareNume si Adresa Solicitant
Nr. ,data deciziei13453, 2023.10.20
Date iniţialeINSTITUTUL DE INGINERIE ELECTRONICĂ ŞI NANOTEHNOLOGII IIEN "D. Ghiţu", MD str. Academiei nr. 3, bloc 3, MD-2028, Republica Moldova
Date finaleINSTITUŢIA PUBLICĂ UNIVERSITATEA TEHNICĂ A MOLDOVEI, MD Bd. Ştefan cel Mare şi Sfânt nr. 168, MD-2004, Chişinău, Republica Moldova