(11) | Numarul documentului | 3579 |
(21) | Numarul depozitului | a 2006 0132 |
(22) | Data depozitului | 2006.05.02 |
| Data depunerii cererii de examinare: | (de fond) |
(71) | Numele sau denumirea solicitantului (solicitanţilor), codul ţării | INSTITUTUL DE INGINERIE ELECTRONICĂ ŞI TEHNOLOGII INDUSTRIALE AL ACADEMIEI DE ŞTIINŢE A MOLDOVEI, MD; |
(72) | Numele inventatorului (inventatorilor), codul ţării | BODIUL Pavel, MD; GHIŢU Dumitru, MD; NIKOLAEVA Albina, MD; ŢURCAN Ana, MD; POPOV Ion, MD; |
(73) | Numele sau denumirea titularului (titularilor), codul ţării | INSTITUTUL DE INGINERIE ELECTRONICĂ ŞI TEHNOLOGII INDUSTRIALE AL ACADEMIEI DE ŞTIINŢE A MOLDOVEI, MD; |
(54) | Titlul inventiei | Procedeu de obţinere a microfirelor semimetalice de bismut în izolaţie de sticlă de molibden |
(13) | Codul documentului | |
(51) | Clasificarea Internationala de Brevete | H01B 13/06 (2006.01); H01B 13/00 (2006.01); |
(19) | Tara | MD |
(45) | Data publicarii hotararii de acordare a brevetului | 2008.04.30 |
(47) | Data eliberării brevetului | 2008.12.31 |
| Examinator(i) la examinarea de fond | GULPA Alexei |
| S-a achitat mentinerea pana la data: | 2011.05.02 |
| Data decăderii din drepturi | 2011.05.02 |
| Publicarea menţiunii de încetare a valabilităţii cu dreptul de restabilire, în buletinul din | 2011.12.31 |
| Publicarea menţiunii de încetare a valabilităţii fără dreptul de restabilire, în buletinul din | 2012.11.30 |
| Modificarea titularului | Nr. şi data deciziei: | 5520, 2007.06.01 | Datele iniţiale: | LABORATORUL INTERNAŢIONAL DE SUPRACONDUCTIBILITATE ŞI ELECTRONICA SOLIDULUI AL ACADEMIEI DE ŞTIINŢE A REPUBLICII MOLDOVA, MD | Datele finale: | INSTITUTUL DE INGINERIE ELECTRONICĂ ŞI TEHNOLOGII INDUSTRIALE AL ACADEMIEI DE ŞTIINŢE A MOLDOVEI, MD |
|
| Statutul cererii/brevetului | Brevet nevalabil |