For comments, suggestions
Created with Raphaël 2.1.0 10.11.2022 Examinarea formala (atribuirea datei de depozit) 27.12.2022 Examinarea preliminara 16.03.2023 Constituirea depozitului national reglementar 16.03.2023 Examinarea conditiilor pentru acordarea BISD 30.04.2024 Publicarea hot. de acordare (Y) 31.10.2024 Finalizarea perioadei de depunere a opozitiilor 30.11.2024 Eliberarea brevetului (Z) 27.12.2024 10.11.2027 Valabil pana la 10.11.2028 Data expirarii brevetului

Brevet valabil


(11)Numarul documentului1753
(21)Numarul depozituluis 2022 0099
(22)Data depozitului2022.11.10
(71)Numele sau denumirea solicitantului (solicitanţilor), codul ţăriiINSTITUŢIA PUBLICĂ UNIVERSITATEA TEHNICĂ A MOLDOVEI, MD;
(72)Numele inventatorului (inventatorilor), codul ţăriiCONDREA Elena, MD; SIDORENKO Anatolie, MD; BELOŢERCOVSCHII Igori, MD;
(73)Numele sau denumirea titularului (titularilor), codul ţăriiINSTITUŢIA PUBLICĂ UNIVERSITATEA TEHNICĂ A MOLDOVEI, MD;
(54)Titlul inventieiMetodă de măsurare a rezistenţei microfirelor deformate în câmp magnetic transversal
(13)Codul documentului
Z, BOPI 11/2024
Y, BOPI 04/2024
(51)Clasificarea Internationala de Brevete G01N 3/00 (2006.01); G01N 27/02 (2006.01); G01N 33/20 (2006.01); G01R 27/02 (2006.01); H01B 1/02 (2006.01); H10N 50/10 (2023.01);
(19)TaraMD
(45)Data publicarii hotararii de acordare a brevetului2024.04.30
(47)Data eliberării brevetului2024.11.30
(74)ReprezentantBALAN Mihail, MD-3552, Trebujeni, Orhei, Republica Moldova
 Examinator(i) la examinarea de fondCERNEI Tatiana, SĂU Tatiana
 S-a achitat mentinerea pana la data:2027.11.10
 Modificarea solicitantului
Nr. şi data deciziei:13453, 2023.10.20
Datele iniţiale:INSTITUTUL DE INGINERIE ELECTRONICĂ ŞI NANOTEHNOLOGII IIEN "D. Ghiţu", MD str. Academiei nr. 3, bloc 3, MD-2028, Republica Moldova
Datele finale:INSTITUŢIA PUBLICĂ UNIVERSITATEA TEHNICĂ A MOLDOVEI, MD Bd. Ştefan cel Mare şi Sfânt nr. 168, MD-2004, Chişinău, Republica Moldova
 Statutul cererii/brevetuluiBrevet valabil
Up
/inventions/details/s 2022 0099